第2回: シリコンにフェムト秒レーザーで穴を開ける——GPUシミュレーション“予習編”
要約:本番の「Si 薄膜 × フェムト秒レーザー」分子動力学を成功させるため、まず Quantum ESPRESSO で基礎データを収集しました。A100 80GB ×4 機での実測時間を整理し、どのケースが穴あけシミュレーションの何を支えるのかをストーリー仕立てで説明します。さらに、H200 NVL に置き換えた場合の時間短縮効果も展望します。
TL;DR:液体化と空孔形成が最重量級。A100×4 で 1 ステップ 70–95 秒、総時間は 2.8–3.7 時間級。Bulk/Strain は 1 ステップ 2–3 秒台で網羅向き。H200 NVL×4 なら概ね 1.7–2.3×(推定)短縮、8GPU でさらに半減レンジ。
なぜ“予習”が必要か:ケースの役割を物語で理解
① Bulk(バルク)=「健康診断」
シリコン結晶の標準状態を決めます。これがないと、レーザー照射後の「異常」を正しく比較できません。
② Strain(ひずみ)=「耐久テスト」
引張・圧縮で材料の応力–歪み特性を把握。レーザーによる瞬間的な膨張・収縮を理解する基盤となります。
③ Liquid(液体化)=「氷が解ける瞬間の再現」
レーザー直下では Si が溶融します。液体状態を正しく記述できなければ、溶け拡がりや再凝固の描像は成立しません。計算負荷は最重量級。
④ Void(空孔)=「割れ目のタネ」
欠陥や空孔は、穴あけの起点になります。局所的な応力集中や熱流入を理解するために必須です。
A100×4 実測まとめ(WALL 時間)
総時間ランキング
| カテゴリ | ケース | 総時間 (秒) | 備考 |
|---|---|---|---|
| 最重量級 | strain_extra/strain_extra_T600K | 13260 | ひずみ拡張大規模 |
| 重量級 | voids/void_strain_+00pct_T300K | 10500 | 空孔シミュレーション |
| 重量級 | voids/void_strain_+05pct_T300K | 10080 | 空孔シミュレーション |
| 液体 | liquid/liquid_T3000K | 1115.99 | 溶融 Si 高温 |
| 液体 | liquid/liquid_T2000K | 570.22 | 溶融 Si 中温 |
1ステップあたり時間ランキング
| カテゴリ |
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